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Exercice 1 : Diffraction de Fraunhofer

Problème guidé corrigé : Diffraction de Fraunhofer et analyse spectrale

Section titled “Problème guidé corrigé : Diffraction de Fraunhofer et analyse spectrale”

Ce problème aborde un classique des concours de la filière PC : l’étude de la diffraction de Fraunhofer par une ou plusieurs ouvertures, et son application à la caractérisation spectrale d’une source lumineuse.

Les objectifs de ce problème sont les suivants :

  1. Établir l’expression de l’amplitude lumineuse diffusée dans le cadre de l’approximation de Fraunhofer.
  2. Étudier le profil d’intensité lumineuse pour une fente rectangulaire unique, puis pour un réseau de fentes.
  3. Analyser le pouvoir de résolution d’un instrument dispersif.

Partie I : Diffraction par une fente rectangulaire unique

Section titled “Partie I : Diffraction par une fente rectangulaire unique”

On considère une fente rectangulaire de grande longueur selon l’axe (Oy)(\text{Oy}) et de largeur aa selon l’axe (Ox)(\text{Ox}), percée dans un plan opaque (Oxy)(\text{Oxy}). Cette fente est éclairée sous incidence normale par une onde plane lumineuse monochromatique de longueur d’onde λ\lambda, de pulsation ω\omega et d’amplitude complexe E0E_0.

Un système optique convergent (lentille mince de focale f′f') placé après la fente permet d’observer la figure de diffraction dans son plan focal image, repéré par les coordonnées cartésiennes (X,Y)(X, Y) ou par les coordonnées angulaires (u,v)(u, v) telles que : u=Xf′etv=Yf′u = \frac{X}{f'} \quad \text{et} \quad v = \frac{Y}{f'}

Q1. Expression de l’amplitude complexe diffractée

Section titled “Q1. Expression de l’amplitude complexe diffractée”

Établir, en justifiant l’approximation de Fraunhofer, que l’amplitude complexe du champ électrique E(X,Y)E(X, Y) dans le plan focal de la lentille s’écrit sous la forme : E(X,Y)=E1∫−a/2a/2exp⁡(j2πλxu)dxE(X, Y) = E_1 \int_{-a/2}^{a/2} \exp\left(j \frac{2\pi}{\lambda} x u\right) \text{d}x où E1E_1 est une constante complexe indépendante de xx.

Indication de correction : L’approximation de Fraunhofer correspond au régime de diffraction à l’infini (ou dans le plan focal d’une lentille convergente). Elle s’applique lorsque la distance d’observation est très grande devant la taille de l’ouverture, ou lorsque les termes de phase correctifs d’ordre 2 (approximation de Fresnel) peuvent être négligés devant π\pi. La différence de marche entre un rayon passant par le point xx de la fente et le centre O\text{O} de l’ouverture, observé sous la direction angulaire uu, vaut δ=xsin⁡(u)≈xu\delta = x \sin(u) \approx x u pour les petits angles. La phase correspondante est ϕ=2πλδ=2πλxu\phi = \frac{2\pi}{\lambda} \delta = \frac{2\pi}{\lambda} x u.

En effectuant l’intégration, montrer que l’intensité lumineuse I(X,Y)I(X, Y) s’exprime sous la forme : I(X,Y)=I0 sinc2(β)I(X, Y) = I_0 \text{ sinc}^2(\beta) où l’on exprimera β\beta en fonction de aa, λ\lambda et uu (ou XX), et où sinc(x)=sin⁡(x)x\text{sinc}(x) = \frac{\sin(x)}{x}. Préciser l’expression de I0I_0.

Indication de correction : L’intégration de l’amplitude donne : E(X,Y)=E1[λj2πuexp⁡(j2πλxu)]−a/2a/2=E1λπusin⁡(πauλ)E(X, Y) = E_1 \left[ \frac{\lambda}{j 2\pi u} \exp\left(j \frac{2\pi}{\lambda} x u\right) \right]_{-a/2}^{a/2} = E_1 \frac{\lambda}{\pi u} \sin\left(\frac{\pi a u}{\lambda}\right) En posant β=πauλ=πaXλf′\beta = \frac{\pi a u}{\lambda} = \frac{\pi a X}{\lambda f'}, on obtient E(X,Y)=Emaxsinc(β)E(X, Y) = E_{max} \text{sinc}(\beta). L’intensité lumineuse étant proportionnelle au carré du module de l’amplitude complexe (I=nε0c∣E∣2I = n \varepsilon_0 c |E|^2), il vient : I(X,Y)=I0(sin⁡ββ)2=I0sinc2(β)I(X, Y) = I_0 \left(\frac{\sin\beta}{\beta}\right)^2 = I_0 \text{sinc}^2(\beta) avec I0I_0 l’intensité maximale au centre de la figure (X=0X = 0).


On remplace la fente unique par un réseau plan par transmission constitué de NN fentes identiques de largeur aa, parallèles, le centre de deux fentes consécutives étant distant de bb (le pas du réseau).

Q3. Facteur de structure et facteur de forme

Section titled “Q3. Facteur de structure et facteur de forme”

En utilisant le formalisme des interférences à NNondes, montrer que l’intensité lumineuse totale Itot(X)I_{\text{tot}}(X) dans le plan d’observation s’écrit sous le produit de deux termes : Itot(X)=I0⋅sinc2(β)⋅sin⁡2(Nα)sin⁡2(α)I_{\text{tot}}(X) = I_0 \cdot \text{sinc}^2(\beta) \cdot \frac{\sin^2(N \alpha)}{\sin^2(\alpha)} Donner l’expression de α\alpha en fonction de bb, λ\lambda et uu. Préciser le rôle physique de chacun des deux facteurs (terme de diffraction et terme d’interférence).

Indication de correction : L’amplitude totale est la somme des amplitudes diffractées par chacune des NN fentes, en tenant compte du déphasage φ=2πλbu\varphi = \frac{2\pi}{\lambda} b u entre deux fentes consécutives : Etot=Efente∑n=0N−1exp⁡(jnφ)E_{\text{tot}} = E_{\text{fente}} \sum_{n=0}^{N-1} \exp(j n \varphi) La somme géométrique se calcule classiquement : ∑n=0N−1exp⁡(jnφ)=1−exp⁡(jNφ)1−exp⁡(jφ)=exp⁡(j(N−1)φ2)sin⁡(Nφ/2)sin⁡(φ/2)\sum_{n=0}^{N-1} \exp(j n \varphi) = \frac{1 - \exp(j N \varphi)}{1 - \exp(j \varphi)} = \exp\left(j (N-1)\frac{\varphi}{2}\right) \frac{\sin(N \varphi / 2)}{\sin(\varphi / 2)} En posant α=φ2=πbuλ\alpha = \frac{\varphi}{2} = \frac{\pi b u}{\lambda}, et en combinant avec le résultat de la partie I (Efente∝sinc(β)E_{\text{fente}} \propto \text{sinc}(\beta)), on obtient le produit des intensités : I_{\text{tot}}(X) = I_0 \underbrace{\text{sinc}^2(\beta)}_{\text{Facteur de forme (diffraction)}} \times \underbrace{\frac{\sin^2(N \alpha)}{\sin^2(\alpha)}}_{\text{Facteur de structure (interférences)}}_

  • Le facteur de forme module l’enveloppe globale de la figure d’intensité (lié à la géométrie d’une fente unique).
  • Le facteur de structure engendre des pics d’interférence fins (les ordres principaux du réseau) localisés aux positions où α=pπ\alpha = p \pi (avec p∈Zp \in \mathbb{Z}).

Q4. Localisation des pics principaux et condition de grating

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Déterminer la condition sur l’angle uu (ou la position XX) pour l’obtention des pics d’intensité maximale (ordres principaux). Exprimer la relation liant bb, l’angle d’incidence (supposé nul), l’angle de diffraction θ\theta (avec sin⁡θ≈u\sin\theta \approx u) et la longueur d’onde λ\lambda.

Indication de correction : Les maxima principaux de la fonction sin⁡2(Nα)sin⁡2(α)\frac{\sin^2(N \alpha)}{\sin^2(\alpha)} sont obtenus lorsque le dénominateur s’annule, c’est-à-dire α=pπ\alpha = p \pi avec p∈Zp \in \mathbb{Z} (levée de l’indétermination par un passage à la limite). Cela se traduit par : πbuλ=pπ  ⟹  bsin⁡θ=pλ(avec sin⁡θ≈u)\frac{\pi b u}{\lambda} = p \pi \implies b \sin\theta = p \lambda \quad (\text{avec } \sin\theta \approx u) C’est la formule des réseaux par transmission sous incidence normale.


Partie III : Application à la sélectivité spectrale

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On éclaire maintenant ce réseau par une source polychromatique émetteur de deux radiations très proches : λ1\lambda_1 et λ2=λ1+Δλ\lambda_2 = \lambda_1 + \Delta\lambda, avec λ1=589,0 nm\lambda_1 = 589,0\text{ nm} (raie du sodium).

Exprimer la variation angulaire dθ\text{d}\theta correspondant à une variation de longueur d’onde dλ\text{d}\lambda pour un ordre de diffraction pp fixé. En déduire la dispersion angulaire dθdλ\frac{\text{d}\theta}{\text{d}\lambda}.

Indication de correction : En différenciant la relation des réseaux bsin⁡θ=pλb \sin\theta = p \lambda à pp constant : bcos⁡θ dθ=p dλ  ⟹  dθdλ=pbcos⁡θb \cos\theta \, \text{d}\theta = p \, \text{d}\lambda \implies \frac{\text{d}\theta}{\text{d}\lambda} = \frac{p}{b \cos\theta} Plus le pas bb est petit (réseau “fin”), plus la dispersion angulaire est grande, ce qui sépare mieux les différentes longueurs d’onde.

Q6. Critère de Rayleigh et Pouvoir de résolution

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On rappelle le critère de Rayleigh : deux raies de longueurs d’onde λ\lambda et λ+Δλ\lambda + \Delta\lambda sont considérées comme résolues si le maximum principal de l’une coïncide avec le premier minimum annulé de l’autre. Montrer que le pouvoir de résolution théorique R=λΔλR = \frac{\lambda}{\Delta\lambda} d’un réseau comportant NN traits éclairés est donné par : R=p⋅NR = p \cdot N

Indication de correction : Le premier minimum d’intensité encadrant l’ordre principal pp correspond à une variation de phase globale telle que le numérateur du facteur d’interférence s’annule, soit Nα=(Npπ±π)N \alpha = (N p \pi \pm \pi), ce qui décale α\alpha de πN\frac{\pi}{N}. La largeur angulaire d’un pic d’interférence entre deux minima consécutifs s’obtient par NΔα=π  ⟹  NπbλΔθ=π  ⟹  Δθ=λNbcos⁡θN \Delta\alpha = \pi \implies N \frac{\pi b}{\lambda} \Delta\theta = \pi \implies \Delta\theta = \frac{\lambda}{N b \cos\theta}. En égalant cette largeur avec l’écart angulaire entre deux longueurs d’onde δθ=pbcos⁡θΔλ\delta\theta = \frac{p}{b \cos\theta} \Delta\lambda (selon le critère de Rayleigh δθ=Δθ\delta\theta = \Delta\theta) : pbcos⁡θΔλ=λNbcos⁡θ  ⟹  pΔλ=λN  ⟹  R=λΔλ=p⋅N\frac{p}{b \cos\theta} \Delta\lambda = \frac{\lambda}{N b \cos\theta} \implies p \Delta\lambda = \frac{\lambda}{N} \implies R = \frac{\lambda}{\Delta\lambda} = p \cdot N


  1. Limites de l’approximation de Fraunhofer : L’utilisation de la transformée de Fourier spatiale (via les intégrales de type sinc\text{sinc}) n’est valide qu’à l’infini ou dans le plan focal d’une lentille. En pratique, si la source n’est pas strictement infinie (faisceau gaussien de taille finie par exemple), des termes correctifs de diffraction de Fresnel apparaissent.
  2. Étanchéité des approximations : L’hypothèse des petits angles (sin⁡θ≈θ≈u\sin\theta \approx \theta \approx u) simplifie grandement les expressions mathématiques, mais elle conduit à une erreur non négligeable pour les ordres de diffraction élevés (pp grand) où les angles θ\theta s’éloignent de zéro.
  3. Optimisation du réseau : Le pouvoir de résolution R=pNR = pN montre qu’il est préférable d’utiliser des ordres élevés (p≥1p \ge 1) et un grand nombre de traits NN illuminés. Cependant, l’intensité lumineuse globale diminue en I0sinc2(β)I_0 \text{sinc}^2(\beta), ce qui limite l’exploitation des ordres supérieurs en pratique à cause du rapport signal sur bruit.